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XAS数据，到底该如何分析？

如图1所示，XAS原始数据可以分为近边XANES和扩展边EXAFS两部分。近边对电子结构、价态、组分等比较敏感，而扩展边通过数据处理和拟合可以获得丰富的结构信息。

图1 XAS原始数据示例

1. 扩展边X射线吸收精细结构谱（EXAFS分析）

通过EXAFS分析可以得到丰富的结构信息，也是最常见的一种数据解析内容。如图1所示，EXAFS形象理解的话可以看做是中心元素内层电子吸收X射线跃迁到外层形成光电子，光电子以波的形式发射出去并受到周围原子的散射，散射波与发射波产生干涉就得到了图1中所示的震荡波谱。EXAFS的数据处理需要将上述能量空间的震荡转换为波长k空间的震荡（图2）。而k空间的数据可以进一步通过傅里叶变换得到R空间的数据。至此我们才可以大概获得有关结构信息的“直观”数据。此外，通过R空间的逆傅里叶变换可以得到q空间数据。

图2 R空间与k空间

1）R空间中某个峰的可以对应距离中心元素多远存在一种或者多种配位元素，但是直接傅里叶变换得到的R空间中峰的位置并非真实键长，一般比实际键长短~0.5 Å，真实的键长应以拟合结果为准，在作图中可以直接作图无需矫正。

2）R空间中并非所有的峰都有意义，比如小于1 Å的，对于常见的金属而已很难有如此近的配位元素存在。另外，对于比较弱的峰更加需要小心区分，可能是信噪比较差引起的，也可能是伴随某元素主峰出现的弱峰。

3）R空间中，同一位置峰的高度与配位数的大小效果，可以利用这个特性粗略判断不同样品中配位数的高低。但是随着距离增加其高度会有指数级降低，尤其是对于结构比较无序的样品，其峰也会更弱。

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