专栏名称: 研之成理
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研之成理  · 公众号  · 科研  · 2025-06-15 13:45

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1 Sun 光照)后效率保持率 94.9% 85℃ 热老化同等时长后保持 95.2% ,远超未修饰器件( 70.7%/73.2% )。




图文解析

1. HS 界面层的结构与能级调控机制

要点:

HS 聚合物骨架双侧分布的 COO⁻ SO₃⁻ Na⁺ 基团,通过 Pb-O Sn-O 键(键长分别为 2.44 Å 2.21 Å )桥接 SnO₂ 与钙钛矿层,形成 3–5 nm 的非晶界面层。紫外光电子能谱( UPS )显示 HS 修饰使 SnO₂ 的导带边( Ec )从 -4.35 eV 上移至 -4.16 eV ,与钙钛矿 Ec -3.92 eV )更匹配,界面能垒降低促进电子提取。开尔文探针测量验证功函数从 -4.47 eV 升至 -4.31 eV ,与 UPS 结果一致。此外, HS 引入轻度氧空位提升 SnO₂ 电导率,而均匀的 Na S 元素分布证实 HS SnO₂ 表面的全覆盖,为界面稳定性奠定基础。


2. HS 对钙钛矿光电性能的优化作用

要点:

HS 修饰的 SnO₂ 表面钙钛矿晶粒尺寸显著增大(扫描电镜图),二维掠入射 X 射线衍射( 2D-GIXRD )显示衍射环更明亮尖锐,表明结晶质量提升。瞬态吸收光谱中 SnO₂/HS 基钙钛矿吸收衰减更快,证明载流子传输效率提高。稳态荧光强度降低及时间分辨荧光衰减加速( τ₁ 18.7 ns 缩至 15.2 ns )进一步说明界面缺陷减少。空间电荷限制电流测试揭示陷阱密度从 1.47×10¹⁵ cm⁻³ 降至 1.36×10¹⁵ cm⁻³







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