正文
合金中,
In
倾向于分布在表面,而
Pt
集中在内部(
图
1f
)。程序升温还原实验结果表明
PtIn/SiO
2
中
Pt
0
和
In
0
的原子比接近
1/0.4
。因此,上述实验结果表明
Pt
0
同时与
In
0
和未还原的
InO
x
物种配位,后者存在于
PtIn
合金和
SiO
2
载体之间。
图
1
电子性质表征
(a, b) Pt/SiO
2
和
PtIn/SiO
2
的
X
射线吸收近边结构和扩展
X
射线吸收精细结构谱
; (c, d)
扩展
X
射线吸收精细结构谱对应的小波变换结果;
(e)
不同
In
负载量的
CO
探针吸附红外实验结果;(
f
)
Ar
+
刻蚀
X
射线光电子能谱实验结果
高角环形暗场相
-
扫描透射电子显微
(HAADF-STEM)
图像表明
PtIn
合金的平均尺寸仅为
0.9 nm
(
图
2a
)。较小的尺寸可能来源于界面处
InO
x
物种带来的抗烧结性能提升,其可以作为纳米岛阻止
PtIn
合金的团聚。能量色散
X
射线元素分布分析结果表明
Pt
和
In
均匀地分散在
SiO
2
载体表面(
图
2b
)。研究人员进一步对单个团簇进行
3D
强度分析,其中大多数较暗的原子被假设为
In
,而较亮的部分则被假设为
Pt
和
In
原子的组合(
图
2c, d
)。为了证实上述猜测,
SiO
2
负载的
PtIn
团簇结构模型被搭建,并且利用
QSTEM
软件模拟出其对应的
HAADF-STEM
图像以及
3D
强度分布图(
图
2e
)。实验结果表明,模拟的
HAADF-STEM
结果与实验结果基本一致,印证了上述猜想。因此,所分析的
PtIn
团簇的原子结构模型如
图
2f
所示。综上所述,
PtIn/SiO
2
催化剂中同时含有原子级分散的
InO
x
物种和结晶性较弱的
PtIn
团簇,且在
PtIn
团簇中存在
In
0
覆盖层。
图
2 PtIn/SiO
2
催化剂的形貌表征
(a) PtIn/SiO
2
的
HAADF-STEM
图像;
(b) PtIn/SiO
2
的
HAADF-STEM
及能量色散
X
射线元素分布分析结果;
(c, d)
单个团簇的
HAADF-STEM
图像以及
3D
强度分布分析结果;
(e)
单个团簇的
HAADF-STEM
模拟结果;
(f) PtIn
团簇结构模型
研究人员在固定床反应器中评价了
PtIn/SiO
2
催化剂在丙烷脱氢反应中的催化性能。首先,随着丙烷浓度逐渐提升,
PtIn/SiO
2
催化剂的转化率几乎不变,但是丙烯产率迅速升高(
图
3a
)。当丙烷浓度达到或超过
40%